Уральский политехнический институт им. С. М. Кирова
Аннотация:
На основе расчетов в приближении кристаллического кластера проанализированы электронная структура и распределение электронной плотности в основном состоянии MgO, CaO, SrO и NaF. Показано, что в отличие от NaF в оксидах вершина валентной зоны формируется состояниями с положительной энергией относительно «muffin-tin»-нуля, которые частично связываются на анионах потенциальным барьером, возникающим в эффективном потенциале. Резонансное рассеяние электронов на этих состояниях приводит к появлению избыточного заряда в междоузельной области оксидов. Одновременно частично разряжаются анионы, и их зарядовое состояние приближается к O$^{-}$.
УДК:
537.226;537.311.32;538.956
Поступила в редакцию: 25.07.1989 Исправленный вариант: 16.07.1990