С. В. Вагин, Р. Йерман, М. Ходошчек, Б. Орел, Т. В. Панченко, “Спектры ИК-отражения кристаллов Bi$_{12}$SiO$_{20}$ при низких температурах”, Физика твердого тела, 1992, том 34, выпуск 5,страницы 1384

Спектры ИК-отражения кристаллов Bi$_{12}$SiO$_{20}$ при низких температурах

С. В. Вагин, Р. Йерман, М. Ходошчек, Б. Орел, Т. В. Панченко

Днепропетровский государственный университет

Аннотация: Измерены низкотемпературные (20 K) спектры кристаллов Bi$_{12}$SiO$_{20}$ и проведен их дисперсионный анализ. Найдены частоты и затухания $TO$ и $LO$ фононов. Обнаружено слабое влияние дефектов Si(Bi) подрешетки на затухание фононов.

Поступила в редакцию: 03.09.1991