Наблюдение субструктуры полисинтетических кристаллов сульфида и селенида цинка

Изложены результаты рентгентопографического и электронно-микроскОпического исследований субструктуры полисинтетических кристаллов ZnS и ZnSe. Обнаружена вариация толщины структурных доменов в кристаллах ZnSe. Визуализированы структурные домены ZnS с толщиной порядка 40 Å. Показано, что при 5-процентной ориентированной пластической деформации толщина доменов увеличивается в несколько десятков раз.