Аннотация:
Предложен новый экспериментальный метод регистрации токов утечки (токов сквозной проводимости) в диэлектриках, основанный на анализе динамики изменения температуры образца при воздействии электрического поля. Регистрация температурного отклика образца с высокой точностью и быстродействием осуществляется бесконтактным фотодиодным ИК-температурным сенсором. Возможности метода продемонстрированы на образцах керамики 0.65 PbFe$_{2/3}$W$_{1/3}$O$_{3}$–0.35 PbTiO$_{3}$ (PFW-PT), для которой получены экспериментальные зависимости проводимости в широком диапазоне температур от 20 до 110$^\circ$С.