RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика твердого тела // Архив

Физика твердого тела, 2020, том 62, выпуск 12, страницы 2120–2128 (Mi ftt8228)

Эта публикация цитируется в 5 статьях

Динамика решетки

Быстрые приповерхностные изменения дефектной структуры в кристаллах тетрабората лития во внешнем электрическом поле

А. Г. Куликовa, А. Е. Благовab, Н. В. Марченковab, Ю. В. Писаревскийab, М. В. Ковальчукab

a Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова Федеральный научно-исследовательский центр "Кристаллография и фотоника" РАН, Москва, Россия
b Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт", г. Москва

Аннотация: Приведены результаты исследования процесса изменения дефектной структуры в приповерхностном слое монокристаллов тетрабората лития (Li$_{2}$B$_{4}$O$_{7}$) при воздействии внешнего электрического поля вдоль полярного направления [001]. С помощью метода времяразрешающей (2 ms) рентгеновской дифрактометрии определена динамика изменения параметров (углового положения и интегральной интенсивности) кривых дифракционного отражения рефлексов 004 и 008. Зарегистрировано два типа процессов, вызванных перераспределением заряда, локализованного у поверхности полярного диэлектрика, и миграцией ионов лития, отличающихся по времени реакции на включение внешнего поля, скорости протекания и зависящих от полярности. Измерения проводились при напряжениях, обеспечивающих обратимый характер индуцированных полем эффектов.
Использование двух кратных дифракционных рефлексов с различной глубиной экстинкции рентгеновских лучей позволило получить данные о локализации областей пространственного заряда у анода и катода образца по изменению интегральной интенсивности пиков. Оценка эффективной толщины заряженного приповерхностного слоя дает значение 25 $\mu$m для ионов лития у катода и около 45 $\mu$m для вакансий лития у анода.

Ключевые слова: миграция носителей заряда, тетраборат лития, времяразрешающая рентгеновская дифрактометрия, внешнее электрическое поле.

Поступила в редакцию: 14.04.2020
Исправленный вариант: 11.07.2020
Принята в печать: 13.07.2020

DOI: 10.21883/FTT.2020.12.50216.087


 Англоязычная версия: Physics of the Solid State, 2020, 62:12, 2384–2392

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024