Влияние скин-эффекта и активных потерь на интенсивность линий ЭПР в полупроводящих веществах

Исследовано влияние скин-эффекта и активных потерь в образцах полупроводящего композита с широким диапазоном значений проводимости на интенсивность линии поглощения ЭПР. Предложен подход, позволяющий получить удовлетворительное соответствие расчетных и экспериментальных результатов. Показано, что в зависимости от проводимости исследуемого вещества, интенсивность линии поглощения, соответствующая единице объема, может в разы уменьшаться с увеличением объема исследуемого образца.