RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика твердого тела // Архив

Физика твердого тела, 2019, том 61, выпуск 12, страница 2446 (Mi ftt8591)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Международная конференция ''Механизмы и нелинейные проблемы нуклеации, роста кристаллов и тонких пленок'' , посвященная памяти выдающегося физика-теоретика профессора В. В. Слезова (Сборник трудов) Санкт-Петербург, 1-5 июля 2019 г.
Физика поверхности, тонкие пленки

Impurity effects on nucleation and growth of SiC clusters and layers on Si(100) and Si(111)

J. Pezoldta, M. N. Lubovb, V. S. Kharlamovc

a Institut für Mikro- und Nanotechnologien, Technische Universität Ilmenau, Ilmenau, Germany
b Saint Petersburg Academic University, St. Petersburg, Russian Federation
c A.F. Ioffe Physical-Technical Institute of RAS, St. Petersburg, Russian Federation

Аннотация: A kinetic Monte Carlo model of silicon carbide growth on silicon surface is proposed. Based on this model, the growth of silicon carbide clusters on silicon in the presence of a pre-deposited impurity of various types: attractive and repulsive, is studied. The density of silicon carbide clusters on silicon is calculated. Calculations of the dependencies of the silicon carbide clusters density on the impurity mobility are carried out. The process of redistribution of the species in the multi-component C|Ge|Si structure during annealing is studied in the framework of the kinetic approach. Concentration profiles of the structure components are determined.

Ключевые слова: silicon surface, silicon carbide, interface, impurity, kinetic Monte Carlo, rate equation.

Поступила в редакцию: 16.07.2019
Исправленный вариант: 16.07.2019
Принята в печать: 16.07.2019

Язык публикации: английский


 Англоязычная версия: Physics of the Solid State, 2019, 61:12, 2468–2472

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024