Аннотация:
Приведены результаты исследования структуры и динамики решетки монокристаллических пленок Bi$_{4}$Ti$_{3}$O$_{12}$ толщиной от 4 до 430 nm на подложке (001) MgO с предварительно осажденным подслоем Ba$_{0.4}$Sr$_{0.6}$TiO$_{3}$ (4 nm). Двухслойные структуры получены при высокочастотном распылении керамических мишеней соответствующего состава. Рентгендифракционные исследования, выполненные при комнатной температуре, показали, что в такой гетероструктуре ось c ячейки Bi$_{4}$Ti$_{3}$O$_{12}$ перпендикулярна подложке, а направление [100] составляет угол $\pm$ 45$^\circ$ с направлением [100]MgO. При толщине Bi$_{4}$Ti$_{3}$O$_{12}$ до $\sim$40 nm элементарная ячейка пленки сжата в направлении нормали к плоскости подложки и растянута в плоскости сопряжения, а при больших толщинах происходит смена знака деформации. Обнаружены сдвиги частот фононных мод в пленке Bi$_{4}$Ti$_{3}$O$_{12}$ и появление дополнительных пиков в спектрах комбинационного рассеяния света, что свидетельствует об увеличении степени моноклинного искажения кристаллической структуры пленок по сравнению со структурой кристалла.