Выявление поверхностных состояний в топологических изоляторах Bi$_{2-x}$Sb$_{x}$Te$_{3-y}$Se$_{y}$ по магнитотранспортным измерениям

С целью выявления электронных поверхностных состояний в пленках топологических изоляторов Bi$_{2-x}$Sb$_{x}$Te$_{3-y}$Se$_{y}$ различного состава исследовалось влияние магнитного поля и температуры на их проводимость. Экспериментальные данные могут быть объяснены в рамках модели с двумя типами носителей заряда. В объеме пленки наблюдается термоактивационная проводимость, электронная или дырочная, в зависимости от состава образца, а на поверхности имеются металлоподобные электронные состояния. Заметный вклад поверхностных топологических состояний в величину общей проводимости открывает возможность их исследования.