Аннотация:
Представлены результаты исследований структурных и оптических свойств тонких пленок Cu$_{2}$ZnSn(S,Se)$_{4}$, полученных путем сульфитации (селенизации) пленок Cu$_{2}$ZnSn, которые были напылены методом магнетронного распыления на постоянном токе с использованием мишени Cu$_{2}$ZnSn (99.99%) стехиометрического состава. Установлено, что тонкие пленки Cu$_{2}$ZnSn(S,Se)$_{4}$ являются поликристаллическими с размерами зерен $\sim$60 nm. Определена оптическая ширина запрещенной зоны тонких пленок Cu$_{2}$ZnSnS$_{4}$ ($E^{op}_{g}$ = 1.65 eV) и Cu$_{2}$ZnSnSe$_{4}$ ($R^{op}_{g}$ = 1.2 eV).