Влияние малоамплитудных осцилляций нагрузки на наноконтактные характеристики материалов в процессе наноиндентирования

Критически проанализирован метод непрерывного измерения контактной жесткости, позволяющий непрерывно определять физико-механические свойства исследуемых материалов в процессе внедрения индентора под действием медленно растущей нагрузки при наноиндентировании. Границы применимости этого подхода к характеризации определяются условиями тестирования, при которых дополнительное наложение малоамплитудных осцилляций не влияет на механизмы, кинетику и величину пластической деформации материала под индентором. На примере материалов с аморфной структурой, ГЦК- и ОЦК-решетками показано, что различные методы определения наноконтактных характеристик материалов обладают разной чувствительностью к малоамплитудным осцилляциям нагрузки. Определены значения амплитуд осцилляций и диапазон глубин отпечатка, для которых влиянием осцилляций можно пренебречь. Выявлены закономерности влияния осцилляций на поведение контактных (локальных) характеристик исследованных материалов в закритических режимах.