ЯМР-исследования монокристаллов топологического изолятора Bi$_{2}$Te$_{3}$ при низких температурах

Проведены исследования методом ЯМР $^{125}$Te порошкового образца и монокристаллических пластинок топологического изолятора Bi$_{2}$Te$_{3}$ при комнатной температуре и при низких температурах в интервале 12.5–16.5 K. Спектры монокристаллических пластинок исследовались в ориентации, в которой кристаллографическая ось c была параллельна или перпендикулярна магнитному полю. Для получения спектров регистрировались сигналы спинового эха и строилась их огибающая. Показано, что спектр ЯМР для порошка теллурида висмута и для пластинок с ориентацией $\mathbf{c}\perp\mathbf{B}$ состоит из двух линий, которые предположительно обусловлены ядрами теллура в двух кристаллографических позициях в объеме образца. Положение и форма линий определяются химическим сдвигом и сдвигом Найта. Для ориентации пластинок $\mathbf{c}\parallel\mathbf{B}$ в спектре имеется дополнительная компонента в области высоких частот, которая не может появиться за счет угловой зависимости сдвигов линий, обусловленных ядрами теллура в объеме топологического изолятора. При низкой температуре дополнительная линия доминирует в спектре.