Г. М. Янковский, А. В. Комаров, Р. С. Пузько, А. В. Барышев, К. Н. Афанасьев, И. А. Богинская, И. В. Быков, А. М. Мерзликин, И. А. Родионов, И. А. Рыжиков, “Структурные и оптические свойства одинарных и бинарных пленок серебра и золота”, Физика твердого тела, 2016, том 58, выпуск 12,страницы 2415

Эта публикация цитируется в 17 статьях

Оптические свойства

Структурные и оптические свойства одинарных и бинарных пленок серебра и золота

Г. М. Янковский^ab, А. В. Комаров^ac, Р. С. Пузько^ac, А. В. Барышев^acd, К. Н. Афанасьев^aef, И. А. Богинская^aef, И. В. Быков^aef, А. М. Мерзликин^ace, И. А. Родионов^af, И. А. Рыжиков^aef

^a Всероссийский научно-исследовательский институт автоматики им. Н. Л. Духова, г. Москва
^b Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС", г. Москва
^c Московский физико-технический институт (государственный университет), г. Долгопрудный, Московская обл.
^d Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
^e Институт теоретической и прикладной электродинамики РАН, г. Москва
^f Московский государственный технический университет имени Н. Э. Баумана

Аннотация: Проведено экспериментальное исследование структурных и оптических свойств тонких пленок серебра, золота и бинарных пленок на основе этих металлов. Для изучения свойств нанопленок исследованы спектры отражения при возбуждении поверхностных плазмонов в геометрии Кречманна и спектры эллипсометрических параметров. Спектры отражения анализировались с помощью теоретической модели для определения (эффективных) диэлектрических постоянных пленок. Вычисленные величины диэлектрических постоянных пленок отличаются от данных, полученных методом эллипсометрии. Обсуждаются особенности определения диэлектрических постоянных разными методами и характеристики изготовленных пленок, связанные с влиянием подложки.

Поступила в редакцию: 04.03.2016
Исправленный вариант: 04.05.2016