Аннотация:
Проведены детальные рентгеновские исследования изменения структуры ортобората иттрия в процессе последовательных высокотемпературных изотермических отжигов исходно аморфного прекурсорного состояния. Установлено, что измеренное при комнатной температуре распределение интенсивности дифракционных рефлексов YBO$_{3}$, полученных на начальных этапах кристаллизации, соответствует известной низкотемпературной фазе фатерита с симметрией пространственной группы (пр. гр.) симметрии $P$6$_{3}/m$, а после последовательности высокотемпературных отжигов оно трансформируется в распределение, известное для модификации фатерита с симметрией пр. гр. $P$6$_{3}/mmc$ с теми же параметрами решетки. Полученный результат объяснен на основе учета сферичности рентгеновских волн и связан с изменением формы кристаллитов от шарообразной при низкотемпературных отжигах к гантелеобразной при высокотемпературных отжигах.
В результате экспериментов, проведенных in situ при 1250$^\circ$C, установлено, что исходная низкотемпературная гексагональная ячейка фатерита выше 1000$^\circ$C трансформируется в моноклинную ячейку.