Упругонапряженные и релаксированные пленки La$_{0.67}$Ca$_{0.33}$MnO$_{3}$, выращенные на подложках из алюмината лантана с различной ориентацией

Методами рассеяния ионов средних энергий и рентгеновской дифракции исследована структура пленок La$_{0.67}$Ca$_{0.33}$MnО$_{3}$ (LCMO) толщиной 40 nm, сформированных методом лазерного испарения на подложках (001) и (110) LaAlO$_{3}$ (LAO). Выращенные манганитные слои находились под действием латеральных двухосных сжимающих механических напряжений. Напряжения релаксировали в значительной степени, когда в качестве подложек использовались пластины (110)LAO, причем релаксация сопровождалась формированием дефектов в прослойке манганитной пленки толщиной 3–4 nm, прилегающей к межфазной границе LCMO–(110)LAO. Исследование структуры выращенных слоев сопровождалось измерением их электро- и магнетотранспортных параметров. Максимальные значения электросопротивления пленок LCMO, выращенных на обоих типах подложек, наблюдались при температуре $T_{M}$ порядка 250 K. При температурах, близких к $T_{M}$, магнетосопротивление пленок LCMO/(110)LAO на 20–30% превышало соответствующие данные для пленок LCMO/(001)LAO, однако при низких температурах ($T<$ 150 K) ситуация становилась обратной. При $T<T_{M}$ магнетотранспорт в выращенных манганитных пленках существенно зависел от упорядочения спинов в ферромагнитных доменах, которые увеличивались с понижением температуры.