Морфология поверхности и рамановская спектроскопия тонких слоев халькогенидов висмута и сурьмы

Проведены исследования фононных спектров методом микрорамановской спектроскопии и морфологии межслоевой ван-дер-ваальсoвой поверхности (0001) полуконтактным методом атомно-силовой микроскопии при комнатной температуре в тонких слоях теллурида висмута и твердых растворах Bi$_{2-x}$Sb$_{x}$Te$_{3-y}$Se$_{y}$ различного состава, относящихся к классу трехмерных топологических изоляторов.
Анализ рамановских спектров и отношений интенсивностей активных и неактивных продольных оптических мод в зависимости от состава, морфологии межслоевой поверхности и толщины слоев позволил оценить влияние топологических поверхностных состояний дираковских фермионов, связанное с усилением электрон-фононного взаимодействия вследствие резонансного рамановского рассеяния, и определить составы, в которых вклад топологических поверхностных состояний становится доминирующим.