Аннотация:
Методом спрей–пиролиза при температуре $T_{S}$ = 290$^\circ$C 0.1 М водных растворов солей CuCl$_{2}$$\cdot$ 2H$_{2}$O, ZnCl$_{2}$$\cdot$ 2H$_{2}$O, SnCl$_{4}$$\cdot$ 5H$_{2}$O и (NH$_{2}$)$_{2}$CS получены тонкие пленки Cu$_{2}$ZnSnS$_{4}$$p$-типа толщиной до 0.9 $\mu$m с шириной запрещенной зоны $E_{g}$ = 1.54 eV. Проанализированы электрофизические свойства пленок с использованием модели для поликристаллических материалов с электрически активными границами зерен, определены энергетические и геометрические параметры границ кристаллитов: высота барьеров $E_{b}\approx$ 0.045–0.048 eV, толщина обедненной области $\delta\approx$ 3.25 nm. С использованием методики определения кинетических параметров по данным спектров поглощения пленок при энергии квантов $h\nu\approx E_{g}$ определены эффективные концентрации носителей заряда $p_{0}$ = 3.16 $\cdot$ 10$^{18}$ cm$^{-3}$, их подвижности в кристаллитах $\mu_{p}$ = 85 cm$^{2}$/(V $\cdot$ s), оценена плотность состояний на границах зерен $N_{t}$ = 9.57 $\cdot$ 10$^{11}$ cm$^{-2}$.