Аннотация:
Получены экспоненциальные нижние оценки длин следующих тестов:
полных диагностических тестов при однотипных и произвольных
константных неисправностях на входах схем;
полных диагностических тестов для схем из функциональных элементов в некоторых базисах при однотипных и произвольных константных неисправностях на выходах элементов.
Ключевые слова:схема из функциональных элементов, неисправность, полный диагностический тест, тест для входов схем.
Полный текст:
PDF файл (329 kB)