RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Препринты Института прикладной математики им. М. В. Келдыша РАН // Архив

Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2017, 105, 10 стр. (Mi ipmp2321)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Полные диагностические тесты длины два для схем при инверсных неисправностях функциональных элементов

К. А. Попков


Аннотация: Доказано, что любую булеву функцию можно реализовать схемой из функциональных элементов в базисе $\{x\& y\& z, x\oplus y, 1\}$, допускающей полный диагностический тест длины не более $2$ относительно инверсных неисправностей на выходах элементов.

Ключевые слова: схема из функциональных элементов, инверсная неисправность, полный диагностический тест.

DOI: 10.20948/prepr-2017-105



© МИАН, 2024