RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Препринты Института прикладной математики им. М. В. Келдыша РАН // Архив

Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2019, 081, 29 стр. (Mi ipmp2719)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Метод построения легко диагностируемых схем из функциональных элементов относительно единичных неисправностей

К. А. Попков


Аннотация: Предложен метод синтеза схем из функциональных элементов в произвольном функционально полном базисе, реализующих заданные булевы функции и допускающих единичные диагностические тесты малой длины относительно константных и/или инверсных неисправностей на входах и/или выходах элементов при выполнении определённых начальных условий, связанных с существованием коротких единичных проверяющих тестов для схем в том же базисе при таких же неисправностях. На основании этого метода получены новые верхние оценки длин минимальных единичных диагностических тестов для схем из функциональных элементов в некоторых базисах при некоторых неисправностях элементов.

Ключевые слова: схема из функциональных элементов, константная неисправность, инверсная неисправность, единичный проверяющий тест, единичный диагностический тест.

DOI: 10.20948/prepr-2019-81



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024