RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Препринты Института прикладной математики им. М. В. Келдыша РАН // Архив

Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2004, 088, 25 стр. (Mi ipmp871)

Исследование зависимости отклонений иглы туннельного микроскопа от наклона его оси

Т. Ф. Бурухина, В. А. Карташев


Аннотация: В работе исследуется зависимость смещения иглы туннельного микроскопа от наклона его оси. Эта зависимость должны учитываться на этапе проектирования и в процессе интерпретации измерений. Проведенные эксперименты подтверждают правильность выбранной модели для объяснения зависимости.



© МИАН, 2024