RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Интеллектуальные системы. Теория и приложения // Архив

Интеллектуальные системы. Теория и приложения, 2019, том 23, выпуск 3, страницы 97–130 (Mi ista242)

Эта публикация цитируется в 5 статьях

Часть 3. Математические модели

Короткие единичные проверяющие тесты для контактных схем при обрывах и замыканиях контактов

К. А. Попков


Аннотация: Рассматривается задача реализации булевых функций неизбыточными двухполюсными контактными схемами, допускающими короткие единичные проверяющие тесты относительно обрывов и замыканий контактов. Описаны все функции, для которых минимальная длина указанного теста равна 0, 1, 2 и 3. Доказано, что для почти всех булевых функций от n переменных эта длина равна 4.

Ключевые слова: контактная схема, булева функция, обрыв контакта, замыкание контакта, единичный проверяющий тест.



© МИАН, 2024