RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Интеллектуальные системы. Теория и приложения // Архив

Интеллектуальные системы. Теория и приложения, 2021, том 25, выпуск 4, страницы 153–156 (Mi ista438)

Часть 2. Математика и компьютерные науки

О проверяющих тестах относительно локальных перестановок входов схем

М. А. Лопунов

МГУ

Аннотация: В работе установлен порядок роста функции Шеннона длины проверяющего теста относительно источника неисправностей, который может произвольным образом менять местами любые k подряд идущих входов схемы.

Ключевые слова: проверяющий тест, тесты на входах СФЭ, функция Шеннона, перестановки.



© МИАН, 2024