RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Известия Саратовского университета. Новая серия. Серия: Физика // Архив

Изв. Сарат. ун-та. Нов. cер. Сер. Физика, 2021, том 21, выпуск 4, страницы 372–380 (Mi isuph14)

Твердотельная электроника, микро- и наноэлектроника

Влияние подсветки на вольт-амперные характеристики структур на основе InGaN/GaN при обратном смещении

Д. Я. Вострецов, Л. Н. Вострецова, Т. С. Смирнова, Д. П. Дмитриев

Ульяновский государственный университет, Россия, 432017, г. Ульяновск, ул. Л. Толстого, д. 42

Аннотация: Рассмотрена обратная ветвь вольт-амперной характеристики структуры с квантовыми ямами при подсветке с точки зрения обобщенной модели рекомбинации. Показано, что в процессе формирования вольт-амперных характеристик при обратном смещении и наличии внешней подсветки участвуют три процесса: оптическая генерация, рекомбинация и туннелирование. При подсветке структуры таким же светодиодом в квантовых ямах ведущую роль играет процесс оптической генерации. В результате получено выражение, описывающее ток через образец в этом случае.

Ключевые слова: квантовая яма, токоперенос, обобщенная модель рекомбинации, фотогенерация, туннелирование.

УДК: 621.315.592

Поступила в редакцию: 16.08.2021

DOI: 10.18500/1817-3020-2021-21-4-372-380



© МИАН, 2024