Эта публикация цитируется в
1 статье
Физика конденсированного состояния вещества
Влияние примесных атомов Sm на эффект переключения в тонких пленках GeS
Р. С. Мадатовa,
А. С. Алекперовb,
А. Э. Набиевb a Научно-исследовательский институт радиационных проблем Национальной академии наук Азербайджана
b Азербайджанский государственный педагогический университет
Аннотация:
В последние годы возросло внимание к новым полупроводниковым материалам на основе А
$^{iv}$В
$^{vi}$. Среди них особый интерес представляют тонкие фоточувствительные пленки моносульфида германия. Недавно было создано уникальное устройство из
GeS. Тонкие пластинки способны содержать большое количество ионов лития. Данный материал отлично подходит в качестве сырья при производстве солнечных панелей. Наряду с этим качеством тонкие пленки моносульфида германия обладают эффектами переключения и памяти. Тонкие пленки, полученные термическим испарением на холодных подложках, являются аморфными. Примеси редкоземельных элементов, в том числе атомы
Sm, образуют зародыши кристаллизации. Несмотря на то что кристаллизация полностью не осуществляется по всему объему, фазовый переход обнаруживается в тонких пленках
GeS:Sm. Характерными для этого эффекта является большая разница в сопротивлении высокоомного и низкоомного состояния, большое число циклов переключения, малые времена и энергии переключения. В ходе наших исследований было выявлено, что кратность изменения сопротивления при переключении равна 105-106, время переключения - ( 10
$^{-6}$ с), потребляемая энергия при переключении - ( 10
$^{-7}$ Дж). Это обусловливает необходимость исследования основных закономерностей эффекта переключения проводимости в тонких пленках
GeS:Sm с памятью, их зависимость от внешних факторов. В связи с этим были проведены исследования влияния температуры и освещения на эффект переключения в тонких пленках
GeS:Sm.
Ключевые слова:
тонкие пленки, моносульфид германия, примесные атомы, редкоземельные элементы, сэндвич-структура, эффект переключения и памяти, фазовый переход, кристаллизация, самокомпенсация, высокоомное и низкоомное состояние, комплексы и ассоциаты, уровни прилипания.
DOI:
10.18500/1817-3020-2016-16-4-212-217