Аппаратно программные средства тестирования и отладки КМОП цифровых СБИС по интерфейсу JTAG

Предложена аппаратно-программная система тестирования и отладки СБИС на основе технологии сканирования для микропроцессоров типа СнК, позволяющая в 2 раза сократить площадь тестовой логики, ограничившись 0,1% относительно исходного проекта. Обоснованы схемотехнические решения при построении архитектуры встроенной системы отладки по критериям занимаемой площади и отладочного события.