RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Физико-математические науки // Архив

Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Физико-математические науки, 2015, выпуск 2, страницы 5–15 (Mi ivpnz285)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Математика

Синтез надежных схем при константных неисправностях на входах и выходах элементов

М. А. Алехина

Пензенский государственный университет, Пенза

Аннотация: Актуальность и цели. Рассматривается реализация булевых функций схемами из ненадежных функциональных элементов в базисе, состоящем из одной функции - штрих Шеффера. Задача синтеза надежных схем, реализующих булевы функции, при константных неисправностях одного типа (например, только типа 0 на входах элементов) решалась ранее автором во многих статьях, но, в отличие от них, в этой работе впервые исследуется модель, в которой каждый элемент схемы может быть подвержен константным неисправностям сразу четырех типов: типа 0 и типа 1 на входах и выходах (с различными вероятностями). Заметим также, что при подходящем выборе параметров эта модель описывает инверсные неисправности элементов на входах и (или) выходах. Цель работы - построить надежные схемы, получить верхние и нижние оценки ненадежности схем. Материалы и методы. При построении надежных схем использованы ранее известные методы синтеза и получения оценок ненадежности. Результаты. Получена верхняя оценка ненадежности схем. Описан класс функций K, содержащий почти все булевы функции, и доказана нижняя оценка ненадежности схем, реализующих функции из этого класса. Для функции из класса K построена схема, верхняя и нижняя оценки ненадежности которой асимптотически равны. Полученные результаты могут быть использованы при проектировании технических систем для повышения их надежности. Выводы. Почти любую булеву функцию можно реализовать схемой, верхняя и нижняя оценки ненадежности которой асимптотически равны.

Ключевые слова: ненадежные функциональные элементы, надежность схемы, ненадежность схемы, константные неисправности типа 0 и 1 на входах и выходах элементов.

УДК: 519.718



© МИАН, 2024