Аннотация:
Предложен алгоритм сжатия выходных двоичных последовательностей тестируемого цифрового устройства, позволяющий исключить риск пропуска ошибок. Определены необходимые для этого характеристики выходных двоичных последовательностей эталонного цифрового устройства и предложены приемы, обеспечивающие их достижение.
Ключевые слова:метод компактного тестирования, цифровые устройства