RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Известия Кабардино-Балкарского научного центра РАН // Архив

Известия Кабардино-Балкарского научного центра РАН, 2005, выпуск 1, страницы 64–69 (Mi izkab770)

ИНФОРМАТИКА

Метод компактного тестирования цифровых устройств, обеспечивающий максимальную достоверность контроля

Ю. К. Тлостанов

Институт информатики и проблем регионального управления КБНЦ РАН, г. Нальчик

Аннотация: Предложен алгоритм сжатия выходных двоичных последовательностей тестируемого цифрового устройства, позволяющий исключить риск пропуска ошибок. Определены необходимые для этого характеристики выходных двоичных последовательностей эталонного цифрового устройства и предложены приемы, обеспечивающие их достижение.

Ключевые слова: метод компактного тестирования, цифровые устройства

УДК: 681.326.7.74



© МИАН, 2024