Пробой КЭХ в регулярно неоднородных 2D электронных системах

Обсуждается механизм пробоя для ВАХ системы целочисленных холловских каналов в 2D образце с регулярно неоднородным распределением 2D электронной плотности. Показано, что появление на “берегах” таких полосок внешнего потенциала $V$ ведет к альтернативе: с ростом $V$ ширина полоски сжимается вплоть до нуля, либо она растет геометрически, но “портится качественно”. В обоих случаях со своими (разными) порогами целочисленные полоски теряют свойства, присущие им в режиме квантового эффекта Холла (КЭХ). Эти пороги ассоциируются в работе с явлением несимметричного пробоя КЭХ для системы целочисленных каналов.