Аннотация:
Исследованы рентгеновские спектры поглощения, полученные при скользящих углах падения излучения на стеки каналов микроканальных пластин (МКП). Обнаружены отличия тонкой структуры Si $L$-спектров XANES при углах падения, меньших критического. Для объяснения экспериментальных данных предложен механизм избирательной транспортировки флуоресцентного излучения внутри микроканалов, основанный на аномальной дисперсии в окрестности $L$-края поглощения кремния.