RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики // Архив

Письма в ЖЭТФ, 2005, том 82, выпуск 5, страницы 326–330 (Mi jetpl1556)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

КОНДЕНСИРОВАННЫЕ СРЕДЫ

Наблюдение антифазных доменов в пленках $\mathrm{Cd}_x\mathrm{Hg}_{1-x}\mathrm{Te}$ на кремнии методом фазового контраста в атомно-силовой микроскопии

И. В. Сабининаa, А. К. Гутаковскийa, Ю. Г. Сидоровa, М. В. Якушевa, В. С. Варавинa, А. В. Латышевba

a Институт физики полупроводников Сибирского отделения РАН
b Новосибирский государственный университет

Аннотация: Продемонстрирована возможность использования фазового контраста в атомно-силовой микроскопии для получения адекватной информации о плотности и характере распределения антифазных доменов на поверхности пленок CdHgTe, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии на поверхности Si(301). Сопоставление фазовых изображений поверхности пленок в атомно-силовом микроскопе с изображениями структурных дефектов в приповерхностной области в просвечивающем электронном микроскопе позволило установить связь между микроструктурой и микроморфологией пленок.

PACS: 68.37.-d, 68.47.Fg, 68.55.-a

Поступила в редакцию: 11.07.2005


 Англоязычная версия: Journal of Experimental and Theoretical Physics Letters, 2005, 82:5, 292–296

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024