RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики // Архив

Письма в ЖЭТФ, 2005, том 81, выпуск 6, страницы 305–308 (Mi jetpl1694)

Эта публикация цитируется в 14 статьях

ПОЛЯ, ЧАСТИЦЫ, ЯДРА

Обнаружение параметрического рентгеновского излучения умеренно релятивистских протонов в кристаллах

Ю. Н. Адищевa, А. С. Артемовb, С. В. Афанасьевb, В. В. Бойкоc, М. А. Воеводинb, В. И. Волковb, А. С. Гоголевa, В. Н. Забаевa, А. Н. Ефимовb, Ю. В. Ефремовc, А. Д. Коваленкоb, Ю. Л. Пивоваровa, А. П. Потылицынa, С. В. Романовb, Ш. З. Сайфулинb, Е. А. Силаевc, А. М. Таратинb, С. П. Тимошенковd, С. Р. Угловa

a НИИ Ядерной физики Томского политехнического университета, 634050 Томск, Россия
b Объединенный институт ядерных исследований, 141980 Дубна, Московская обл., Россия
c Институт физико-технических проблем, 141980 Дубна, Московская обл., Россия
d Московский государственный институт электронной техники, 124498 Москва, Зеленоград, Россия

Аннотация: Зарегистрированы спектральные максимумы параметрического рентгеновского излучения при взаимодействии умеренно релятивистских протонов с различными кристаллами. Положения максимумов излучения в спектрах зависят от угла ориентации кристалла и соответствуют теоретическим значениям. Измерения выполнены c кристаллами кремния и графита на пучке протонов 5 ГэВ Нуклотрона ЛВЭ ОИЯИ.

PACS: 78.70.-g

Поступила в редакцию: 10.02.2005


 Англоязычная версия: Journal of Experimental and Theoretical Physics Letters, 2005, 81:6, 241–244

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024