Влияние малых магнитных добавок к восприимчивости на угловые зависимости отражения рентгеновского поляризованного излучения от многослойных структур

Метод рентгеновского резонансного отражения поляризованного излучения (XRMS – X-ray resonant magnetic scattering) дает возможность определения оптических констант, включая магнитные поправки, существенные вблизи краев рентгеновского поглощения резонансных атомов, по сдвигу угла Брэгга при отражении от периодических мультислоев. Недавно Valvidares с соавторами [Phys. Rev. B 78, 064406 (2008)] обнаружили существенные различия формы “магнитных” брэгговских максимумов отражения от $\mathrm{[Co_{73}Si_{27}(50\,\mathring A)/Si(30\,\mathring A)]_{10}}$ пленки для двух противоположных случаев антиферромагнитного (АФМ) межслойного упорядочения. Авторы предположили, что эти особенности можно объяснить наличием магнитно-резонансной поправки на преломление. Мы показали, что такие поправки в случае АФМ структур не приводят к смещению брэгговского максимума, но форма “магнитных” максимумов объясняется интерференцией магнитной и немагнитной амплитуд отражения.