Аннотация:
Показано, что в ряде случаев в формировании кривых отражения для многоволновой рентгеновской дифракции наряду с чисто упругим рассеянием существенную роль может играть и неупругое когерентное рассеяние рентгеновских лучей на фононах. Этот процесс может изменить интерференционную структуру слабого рефлекса, и его необходимо учитывать при извлечении триплетной фазы, что продемонстрировано на примере анализа экспериментальных кривых отражения от кристалла KDP для случая компланарной трехволновой дифракции.