RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики // Архив

Письма в ЖЭТФ, 2012, том 96, выпуск 10, страницы 732–737 (Mi jetpl3288)

Эта публикация цитируется в 6 статьях

КОНДЕНСИРОВАННОЕ СОСТОЯНИЕ

Об энергетической зависимости выхода двухзарядных отрицательных ионов при захвате свободных электронов молекулами трифторметилфуллерена C$_{60}$(CF$_3)_{12}$

Р. В. Хатымовa, Р. Ф. Туктаровa, В. Ю. Марковb, Н. А. Романоваb, М. В. Муфтаховa

a Институт физики молекул и кристаллов Уфимского научного центра РАН
b Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова, химический факультет

Аннотация: При исследовании резонансного захвата электронов молекулами трифторметилфуллерена C$_{60}$(CF$_3$)$_{12}$ в масс-спектрах обнаружены пики двухзарядных отрицательных ионов C$_{60}$(CF$_3$)$^{2-}_{n}$ ($n = 6$$12$). Установлено, что последние образуются путем присоединения двух свободных изоэнергетических электронов. Для двухзарядных молекулярных ионов ($n = 12$) зарегистрирован процесс автоотщепления добавочного электрона. Из наблюдения задержанной фрагментации наиболее интенсивно образующихся ионов с $n = 8$ и 10 установлено, что двухзарядные отрицательные ионы, как и их однозарядные аналоги, метастабильны по отношению к отщеплению фрагмента(ов) CF$_3$. Получены зависимости выхода двухзарядных отрицательных ионов от энергии электронов. Путем сравнения с аналогичными зависимостями для однозарядных ионов выявлены особенности, обусловленные наличием кулоновского отталкивательного барьера, а также закономерное влияние удвоенной величины энергии двух добавочных электронов на энергетику диссоциативного распада двухзарядных отрицательных ионов. Измерено абсолютное сечение образования ионов C$_{60}$(CF$_3)^{2-}_{10}$. При энергии максимума их выхода в области $5$ эВ оно составило $\sim1\cdot10^{-19}$ см$^2$.

Поступила в редакцию: 04.09.2012
Исправленный вариант: 15.10.2012


 Англоязычная версия: Journal of Experimental and Theoretical Physics Letters, 2012, 96:10, 659–663

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024