Аннотация:
Методами просвечивающей электронной микроскопии, спектроскопии
электронного парамагнитного резонанса и рамановской спектроскопии исследованы
структурные и электронные свойства тонких пленок гидрогенизированного полиморфного
кремния, полученных методом плазмохимического осаждения смеси газов водорода (H$_2$) и
моносилана (SiH$_4$). Определено, что исследованные пленки состоят из аморфной фазы,
содержащей кремниевые нанокристаллические включения со средним размером порядка
$4$–$5$ нм и объемной долей $10\%$. При исследовании ЭПР-спектроскопии
в пленках
гидрогенизированного полиморфного кремния обнаружен сигнал, приписываемый
электронам, захваченным в хвост зоны проводимости микрокристаллического кремния.
Показано, что введение в пленки аморфного кремния небольшой доли нанокристаллов
неаддитивным образом изменяет электронные свойства материала.