Аннотация:
Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ) является одной из основных
методик прямой визуализации электронной структуры поверхности и химического
анализа многокомпонентных поверхностей на атомном уровне. В обзоре
представлены результаты, демонстрирующие роль орбитальной структуры острия и
взаимодействия атомов зонда и поверхности в формировании СТМ-изображений с
пикометровым пространственным разрешением. Показана возможность создания
зондов с известной структурой острия и селективной визуализации отдельных
электронных орбиталей в СТМ-экспериментах с контролируемыми величиной
туннельного промежутка и структурой зонда.