Размерные эффекты в ультратонких магнитных пленках

Методами Монте-Карло проведено численное исследование размерных эффектов в критических свойствах многослойных гейзенберговских пленок. Для пленок различной толщины учтено влияние анизотропии, создаваемой кристаллическим полем подложки. Рассчитанные значения критических индексов демонстрируют размерный переход от двумерных к трехмерным свойствам пленок с увеличением числа слоев. В пленках с толщинами, соответствующими кроссоверной области, выявлен спин-ориентационный переход в планарную фазу.