RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики // Архив

Письма в ЖЭТФ, 2001, том 74, выпуск 4, страницы 263–266 (Mi jetpl4197)

Эта публикация цитируется в 1 статье

РАЗНОЕ

Эмиссионная проекционная микроскопия диэлектрических образцов со сверхвысоким пространственным разрешением

Б. Н. Миронов, Д. А. Лапшин, С. К. Секацкий, В. С. Летохов

Институт спектроскопии РАН, г. Троицк

Аннотация: Экспериментально реализован метод получения эмиссионных проекционных изображений непроводящих острий со сверхвысоким пространственным разрешением. Бессканирующим методом получено изображение острия стеклянного микрокапилляра с пространственным разрешением не хуже $20$ нм.

PACS: 72.20.-i, 79.70.+q

Поступила в редакцию: 13.07.2001


 Англоязычная версия: Journal of Experimental and Theoretical Physics Letters, 2001, 74:4, 240–243

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024