Топологические дефекты в смектических островах в свободно подвешенных пленках

Изучены текстуры, создаваемые точечными топологическими дефектами в полярных смектических пленках. Использован динамический метод создания таких дефектов (вещество из очень тонкой пленки не успевает уйти на ее края, и контролируемо образуются участки – острова – большей толщины с топологическим дефектом). Топологические дефекты исследованы в смектических островах толщиной в 6–8 молекулярных слоев, находящихся в пленке толщиной в два молекулярных слоя. Конкуренция между двумерной ориентационной упругостью в островах и ориентацией директора на границе смектических островов приводит к различным конфигурациям поля $\mathbf{c}$-директора, создаваемого топологическим дефектом. Переход между конфигурациями происходит при изменении размера островов и зависит от дипольной поляризации жидкого кристалла. Сопоставление численных расчетов структуры топологических дефектов с экспериментальными данными позволило определить зависимость анизотропии двумерной ориентационной упругости от поляризации смектических пленок.