Аннотация:
Проведены синхротронные рентгенографические исследования структуры SnTe при комнатной температуре и при высоких давлениях в условиях квазигидростатического сжатия до $193.5$ ГПа, создаваемых в камерах с алмазными наковальнями. Обнаружены два структурных фазовых перехода при $P\approx3$ и $\approx23$ ГПа. Первый фазовый переход сопровождается скачкообразным уменьшением объема элементарной ячейки на $4\%$ в результате ромбического искажения исходной кубической структуры SnTe-B1 типа NaCl. В диапазоне давлений $3$–$23$ ГПа установлена область сосуществования двух промежуточных ромбических фаз SnTe с пространственной группой $Cmcm$ и $Pnma$. При $23$ ГПа обнаружен второй фазовый переход из промежуточной ромбической модификации в кубическую фазу SnTe-B2 со структурным типом CsCl. Этот переход сопровождается скачкообразным уменьшением объема ячейки на $8\%$. Построена зависимость удельного объема элементарной ячейки от давления при комнатной температуре.