Индуцированная деформацией орбитальная намагниченность вейлевского полуметалла

Деформация кристаллической решетки приводит к возникновению калибровочных псевдо-полей. В настоящей работе исследована намагниченность деформированного вейлевского полуметалла, вызванная псевдо-магнитным полем. Показано, что эта намагниченность отлична от нуля благодаря тому, что одновременно с псевдо-магнитным полем индуцируется еще и электрическое поле – градиент деформационного потенциала. Также показано, что приложение реального электрического поля позволяет изменять значение намагниченности, в частности, уменьшать ее до нуля. Наконец, в исследуемой системе возможна ситуация, когда в одной и той же системе сосуществуют два типа вейлевских фермионов: типа I и типа II.