RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики // Архив

Письма в ЖЭТФ, 2018, том 108, выпуск 6, страницы 435–439 (Mi jetpl5706)

Эта публикация цитируется в 6 статьях

КОНДЕНСИРОВАННОЕ СОСТОЯНИЕ

Структурные фазовые переходы и уравнение состояния в SnSe при высоких давлениях до двух мегабар

А. Г. Ивановаab, И. А. Троянab, Д. А. Чареевcde, А. Г. Гаврилюкabf, С. С. Старчиковab, А. О. Баскаковa, К. В. Фроловa, М. Мезуарg, И. С. Любутинa

a Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова, Федеральный научно-исследовательский центр “Кристаллография и фотоника” РАН, 119333 Москва, Россия
b Институт ядерных исследований РАН, 117312 Москва, Россия
c Казанский (Приволжский) Федеральный Университет, 420008 Казань, Россия
d Институт экспериментальной минералогии РАН, 117312 Черноголовка, Россия
e Физико-технологический институт Уральского Федерального Университета, 620002 Екатеринбург, Россия
f Балтийский федеральный университет имени Иммануила Канта, 236041 Калининград, Россия
g European Synchrotron Radiation Facility, CS40220, F-38043 Grenoble Cedex 9, France

Аннотация: Кристаллическая структура моноселенида олова SnSe исследована в условиях квазигидростатического сжатия до давлений $205$ ГПа, созданных в камерах с алмазными наковальнями, при комнатной температуре. Обнаружены два структурных фазовых перехода при $P\approx 2.5$ и ${\approx}\,32\,$ГПа. Первый фазовый переход является непрерывным из структуры типа сульфида германия GeS (пространственная группа $Pbnm$) в структуру типа иодида таллия TlI (пр.гр. $Cmcm$). При $32$ ГПа обнаружен второй фазовый переход в кубическую структуру типа CsCl (пр.гр. $Pm\bar{3}m$), который сопровождается скачкообразным уменьшением объема элементарной ячейки на $7\,\%$. Построена зависимость удельного объема элементарной ячейки от давления до $205$ ГПа при комнатной температуре.

Поступила в редакцию: 14.08.2018

DOI: 10.1134/S0370274X18180133


 Англоязычная версия: Journal of Experimental and Theoretical Physics Letters, 2018, 108:6, 414–418

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024