Аннотация:
Измерены инфракрасные спектры отражения и нарушенного полного внутреннего отражения тонких пленок PbTe, осажденных методом молекулярно-лучевой эпитаксии на подложку GaAs/CdTe. С помощью дисперсионного анализа определены для каждого из слоев параметры: высокочастотная диэлектрическая проницаемость, частоты поперечных оптических фононов и их силы осцилляторов, плазменные частоты и частоты соударений плазмы. В спектрах нарушенного полного внутреннего отражения, полученных с использованием кремниевой и алмазной призм, наблюдались поверхностные фононные, плазмон-фононные поляритоны. Построены кривые дисперсии поверхностных поляритонов.