З. Д. Квон, М. Л. Савченко, Д. А. Козлов, Е. Б. Ольшанецкий, А. С. Ярошевич, Н. Н. Михайлов, “Фото- и термоэлектрические явления в двумерных топологических изоляторах и полуметаллах на основе HgTe квантовых ям (Миниобзор)”, Письма в ЖЭТФ, 2020, том 112, выпуск 3,страницы 174

Эта публикация цитируется в 5 статьях

КОНДЕНСИРОВАННОЕ СОСТОЯНИЕ

Фото- и термоэлектрические явления в двумерных топологических изоляторах и полуметаллах на основе HgTe квантовых ям (Миниобзор)

З. Д. Квон^ab, М. Л. Савченко^ab, Д. А. Козлов^ab, Е. Б. Ольшанецкий^a, А. С. Ярошевич^a, Н. Н. Михайлов^ba

^a Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова, 630090 Новосибирск, Россия
^b Новосибирский государственный университет, 630090 Новосибирск, Россия

Аннотация: Дан краткий обзор экспериментальных исследований фото- и термоэлектрических явлений в двумерных топологических изоляторах и полуметаллах на основе HgTe квантовых ям.

Поступила в редакцию: 08.06.2020
Исправленный вариант: 11.06.2020
Принята в печать: 11.06.2020

DOI: 10.31857/S1234567820150069