Диагностика наносистем с использованием ультракоротких рентгеновских импульсов: теория и эксперимент (Миниобзор)

Рентгеноструктурный анализ (РСА) – это один из самых известных и используемых методов исследования структуры вещества. Хорошо известно, что рассеяние рентгеновских ультракоротких импульсов (УКИ) может быть использовано в РСА. При рассеянии таких импульсов на различных многоатомных объектах и наносистемах возникают дифракционные картины, которые несут информацию не только о структуре объекта, но и о динамике протекающих процессов в этом объекте. На сегодняшний день существует техническая возможность создания мощных источников УКИ с фемо- и аттосекудной длительностью импульса. Несмотря на это, в РСА при использовании УКИ не всегда применяют новые теории, учитывающие специфику взаимодействия таких импульсов с веществом. Учет такой специфики приведет к лучшему раскрытию возможностей источников УКИ и новым научным результатам. Здесь представлен миниобзор по рентгеновским источникам УКИ, широко используемым методам и новым теориям РСА, учитывающим специфику взаимодействия таких импульсов с веществом, а также современным экспериментам с использованием УКИ.