Аннотация:
Методом оптического детектирования резонансного микроволнового поглощения измерена зависимость циклотронной массы тяжелых дырок в GaAs(001) квантовых ямах от концентрации двумерных дырок. Обнаружено значительное (почти двукратное) увеличение циклотронной массы тяжелых дырок с ростом концентрации носителей заряда в интервале от $1.2\cdot10^{10}$ см$^{-2}$ до $1.3\cdot10^{11}$ см$^{-2}$.
PACS:71.35.Cc, 78.66.Fd
Поступила в редакцию: 25.01.2007 Исправленный вариант: 02.02.2007