Numerical simulation of magnetic microstructure in nanocrystalline thin films with the random anisotropy

Методом микромагнитного моделирования проведены исследования магнитной структуры тонких нанокристаллических пленок со случайным распределением осей легкого намагничивания. В широком диапазоне размеров частиц 6–1000 нм исследованы зависимости параметров корреляционной функции неоднородной намагниченности от величины внешнего планарного магнитного поля. Анализ полученных зависимостей показал существенное различие корреляционных радиусов стохастической магнитной структуры вдоль и поперек направления приложенного поля. При перемагничивании тонких пленок наблюдался эффект блокировки тонкой магнитной структуры «ряби намагниченности».