Olga A. Maksimova, Sergey G. Ovchinnikov, Nikolay N. Kosyrev, Sergey A. Lyaschenko, “Two-layer model of reflective ferromagnetic films in terms of magneto-optical ellipsometry studies”, Журн. СФУ. Сер. Матем. и физ., 2017, том 10, выпуск 2,страницы 223

Эта публикация цитируется в 1 статье

Two-layer model of reflective ferromagnetic films in terms of magneto-optical ellipsometry studies

[Двухслойная модель отражающих ферромагнитных пленок для исследования тонких пленок методом магнитоэллипсометрии]

Olga A. Maksimova^ab, Sergey G. Ovchinnikov^ab, Nikolay N. Kosyrev^b, Sergey A. Lyaschenko^cb

^a Siberian Federal University, Svobodny, 79, Krasnoyarsk, 660041, Russia
^b Kirensky Institute of Physics, Federal Research Center KSC SB RAS, Akademgorodok, 50/38, Krasnoyarsk, 660036, Russia
^c Reshetnev Siberian State Aerospace University, Krasnoyarsky Rabochy, 31, Krasnoyarsk, 660037, Russia

Аннотация: Представлен метод анализа магнито-эллипсометрических измерений. Детально рассматривается двуслойная модель ферромагнитных отражающих пленок. Полученный алгоритм может использоваться для контроля оптических и магнито-оптических свойств пленок в процессе их роста в вакуумных камерах.

Ключевые слова: магнито-оптическая эллипсометрия, эффект Керра, двухслойная модель, ферромагнетик, отражение, контроль роста.

УДК: 517.9

Получена: 17.11.2016
Исправленный вариант: 16.01.2017
Принята: 02.02.2017

Язык публикации: английский

DOI: 10.17516/1997-1397-2017-10-2-223-232