Аннотация:
Проведен теоретический анализ роста наведенного
поглощения в полупроводнике при тепловой генерации ионных дефектов под
действием света и условий возникновения в материале тепловой неустойчивости.
Предложенная модель позволила проследить влияние термохимических процессов
на оптический пробой и выявить условия перехода от полупроводникового
механизма оптического пробоя к термохимическому.